關(guān)于電學(xué)量測(cè)使用的探針，一般分為以下幾大類，為您做詳細(xì)的說(shuō)明
 

　　一、概述：
 

　　測(cè)試針，是用于測(cè)試PCBA的一種探針，主要做為電學(xué)信號(hào)的輸入。
 

　　表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。
 

　　探針的材質(zhì)：W，ReW, A+
 

　　1.目前主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。
 

　　2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。
 

　　二、探針?lè)诸?br /> 

　　探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：
 

　　A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針；
 

　　B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；
 

　　C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針；
 

　　三、探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
 

　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type)
 

　　垂直探針：垂直型(Vertical Type)
 

　　1.ICT探針 (ICT series Probes)
 

　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.
 

　　2.界面探針(Interface Probes)
 

　　非標(biāo)準(zhǔn)的探針
 

　　3.微型探針(MicroSeries Probes)
 

　　兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
 

　　4.開(kāi)關(guān)探針(Switch Probes)
 

　　開(kāi)關(guān)探針單*支探針有兩路電流.
 

　　5.高頻探針(Coaxial Probes)
 

　　用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
 

　　6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
 

　　彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.
 

　　7.高電流探針(High Current Probes)
 

　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
 

　　8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
 

　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
 

　　9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
 

　　一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)